RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Журнал технической физики // Архив

ЖТФ, 2017, том 87, выпуск 2, страницы 277–281 (Mi jtf6322)

Эта публикация цитируется в 2 статьях

Электрофизика, электронные и ионные пучки, физика ускорителей

Безэталонный анализ твердых веществ масс-спектрометром с индуктивно связанной плазмой

Т. К. Нурубейли, З. К. Нурубейли, К. З. Нуриев, К. Б. Гурбанов

Институт физики НАН Азербайджана, Баку, Азербайджан

Аннотация: Рассмотрена возможность безэталонного масс-спектрометрического анализа элементного состава твердых тел. Теоретически и экспериментально исследовано влияние каждого этапа разлета лазерной плазмы на формирование коэффициента относительной чувствительности элементов пробы. Показано, что основные вклады в формирование коэффициента относительной чувствительности внесены этапами ионообразования и детектирования. Предложено разделить процессы диссоциации и ионизации по времени и (или) по пространству. Для компенсации энергетического разброса ионов на выходе из анализатора предложена схема для выравнивания энергий ионов перед их детектированием.

Поступила в редакцию: 20.10.2015
Исправленный вариант: 08.06.2016

DOI: 10.21883/JTF.2017.02.44138.1624


 Англоязычная версия: Technical Physics, 2017, 62:2, 305–309

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024