Прохождение электромагнитных излучений через тонкие пленки Cu

Впервые методом прохождения света исследована электронная структура наноразмерных фаз Cu, полученных на поверхности монокристаллического NaCl (100) методом высоковакуумного напыления. Показано, что нанопленки Cu с толщиной 1–1.5 monolayer обладают свойствами, характерными для узкозонных полупроводников.