О корректном применении преломляющих линз для микроскопии с высоким пространственным разрешением на источниках синхротронного излучения четвертого поколения

Представлен концепт ондуляторной станции источника синхротронного излучения 4-го поколения для когерентной наноскопии и нанотомографии в жестком рентгеновском диапазоне на базе преломляющих линз. Описаны сценарии эксперимента и режимы работы оптики, позволяющие варьировать масштаб исследуемой области в диапазоне $\sim$0.1–100 $\mu$m и достигать пространственного разрешения $\sim$10 nm. Предложены решения, нивелирующие недостатки бериллиевых линз.