RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Журнал технической физики // Архив

ЖТФ, 2024, том 94, выпуск 7, страницы 1196–1206 (Mi jtf6822)

XXVIII Международный симпозиум ''Нанофизика и наноэлектроника'', Н. Новгород, 11-15 марта 2024 г.
Фотоника

Составной рентгеноаморфный радиационно-охлаждаемый фильтр на основе свободно висящих тонких пленок для источников синхротронного излучения

Ю. В. Хомяковa, Я. В. Ракшунab, М. В. Горбачевc, О. М. Кутькинc, В. А. Черновa

a Институт ядерной физики им. Г. И. Будкера СО РАН, 630090 Новосибирск, Россия
b Сибирский государственный университет телекоммуникации и информатики, 630102 Новосибирск, Россия
c Новосибирский государственный технический университет, 630073 Новосибирск, Россия

Аннотация: Предложен радиационно-охлаждаемый рентгеноаморфный фильтр на основе тонких пленок для интенсивных источников синхротронного излучения четвертого поколения с высокой долей когерентного потока фотонов. С целью обеспечения рентгеноаморфности в качестве материала фильтра предложено использовать стеклоуглерод, металлические стекла и многослойные структуры с наноразмерными периодами. Предположено, что фильтрация будет производиться поэтапно: сначала будет подавляться излучение в низкоэнергетичном диапазоне (до $\sim$5 keV), а затем при необходимости в среднеэнергетичном (до $\sim$15 keV). Для осуществления первичной фильтрации излучения в качестве поглотителя предложено использовать набор стеклоуглеродных пленок, а для дополнительной фильтрации – набор пленок, содержащих элементы с более высокими атомными номерами. Подбор материалов фильтрующих пленок позволит реализовать последовательное подавление гармоник ондуляторного излучения при работе в высокоэнергетичном (выше 15 keV) диапазоне. Для стеклоуглеродных пленок проведено моделирование тепловых нагрузок и стационарного распределения температур. Подобрана толщина таких пленок, при которой их максимальная температура в тепловом равновесии при радиационном охлаждении не превышает температуру графитизации.

Ключевые слова: рентгеновский фильтр, рентгеноаморфность, радиационное охлаждение, синхротронное излучение, ондуляторное излучение.

Поступила в редакцию: 17.05.2024
Исправленный вариант: 17.05.2024
Принята в печать: 17.05.2024

DOI: 10.61011/JTF.2024.07.58356.178-24



Реферативные базы данных:


© МИАН, 2025