RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Журнал технической физики // Архив

ЖТФ, 2024, том 94, выпуск 8, страницы 1269–1279 (Mi jtf6829)

XXVIII Международный симпозиум ''Нанофизика и наноэлектроника'', Н. Новгород, 11-15 марта 2024 г.
Физическая электроника

Исследование структурных и отражательных характеристик короткопериодных Mo/Be многослойных рентгеновских зеркал

Р. С. Плешков, С. А. Гарахин, Е. И. Глушков, В. Н. Полковников, Е. Д. Чхало, Н. И. Чхало

Институт физики микроструктур РАН, 603087 Афонино, Кстовский р-н, Нижегородская обл., Россия

Аннотация: Методами рентгеновской рефлектометрии, диффузного рассеяния рентгеновского излучения и интерферометрии исследована серия короткопериодных многослойных зеркал (МЗ) Mo/Be. Показано, что структура МЗ (наличие дифракционных порядков на угловой зависимости коэффициента отражения) наблюдается, по крайней мере, до величины периода 1.29 nm. Также при приближении к экстремально малым величинам периодов, начиная с 1.64 nm, наблюдается резкий рост ширины переходной области между слоями зеркала.

Ключевые слова: многослойные рентгеновские зеркала, синхротронные приложения, монохроматор рентгеновского излучения, внутренние напряжения.

Поступила в редакцию: 06.05.2024
Исправленный вариант: 06.05.2024
Принята в печать: 06.05.2024

DOI: 10.61011/JTF.2024.08.58554.148-24



Реферативные базы данных:


© МИАН, 2025