Е. В. Андреев, П. Ю. Апель, Н. С. Коновалова, Н. М. Окатьева, Н. Г. Полухина, Ж. Т. Садыков, Н. И. Старков, Е. Н. Старкова, Д. М. Стрекалина, М. М. Чернявский, Т. В. Щедрина, “Термическая устойчивость стекол для детекторов тяжелых ионов”, ЖТФ, 2025, том 95, выпуск 1,страницы 188

Физические приборы и методы эксперимента

Термическая устойчивость стекол для детекторов тяжелых ионов

Е. В. Андреев^ab, П. Ю. Апель^a, Н. С. Коновалова^b, Н. М. Окатьева^b, Н. Г. Полухина^b, Ж. Т. Садыков^b, Н. И. Старков^b, Е. Н. Старкова^b, Д. М. Стрекалина^b, М. М. Чернявский^b, Т. В. Щедрина^b

^a Объединенный институт ядерных исследований, 141980 Дубна, Московская обл., Россия
^b Физический институт им. П. Н. Лебедева Российской академии наук, 119991 Москва, Россия

Аннотация: Приведены результаты тестовых исследований фосфатных стекол КНФС-3 и SELG, алюмо-кальциевого стекла АКС5, кварцевого стекла КУ-2 и силикатного стекла С48-3 для регистрации тяжелых ионов в условиях высоких температур. Образцы тестируемых стекол облучены тяжелыми ионами на циклотроне U-400 Объединенного института ядерных исследований в Дубне и прошли термическую обработку в муфельной печи. Травление стекол и анализ данных осуществлялись в Лаборатории элементарных частиц ФИАН. Поиск и анализ протравленных треков проведен на автоматизированном измерительном оптическом микроскопе комплекса ПАВИКОМ. Для дальнейших исследований выбраны два из пяти протестированных стекол.

Ключевые слова: стеклянные детекторы для регистрации тяжелых ионов, тестирование стекол с различным составом, отжиг при высоких температурах, обработка изображений на автоматизированном микроскопе.

Поступила в редакцию: 14.09.2024
Исправленный вариант: 31.10.2024
Принята в печать: 11.11.2024

DOI: 10.61011/JTF.2025.01.59478.272-24