RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Журнал технической физики // Архив

ЖТФ, 2025, том 95, выпуск 2, страницы 326–329 (Mi jtf7202)

Специальный выпуск по материалам Международной конференции "Наноуглерод и Алмаз" (НиА'2024)
Физическое материаловедение

Композиционные материалы с включениями наноструктурного углерода для скользящих электроконтактов

И. Н. Лукинаa, Е. А. Екимовb, Е. И. Дроздоваa, О. П. Черногороваa, Н. А. Дормидонтовa

a Институт металлургии и материаловедения им. А. А. Байкова РАН, 119334 Москва, Россия
b Институт физики высоких давлений им. Л. Ф. Верещагина РАН, 142190 Москва, Троицк, Россия

Аннотация: Для миниатюрных скользящих подшипников и токоподводов синтезированы композиционные материалы (КМ) на основе латуни и меди с регулярным $3D$ проводящим каркасом с отверстиями, заполненными фуллеритами С$_{60}$. Образцы КМ получены путем термобарической обработки сеток из латунной проволоки Л80 со стороной ячейки 0.3 и 0.5 mm, заполненных фуллеритами С$_{60}$. Параметры обработки обеспечивают консолидацию заготовки и превращение фуллеритов в ячейках сетки в монолитные включения сверхупругого твердого углерода с нанокластерной графеновой структурой. Твердость и модуль индентирования углеродной фазы внутри ячеек с размером стороны 0.3 mm ($H_{\mathrm{IT}}$ = 24 GPa, $E_{\mathrm{IT}}$ = 139 GPa) выше, чем в ячейках сетки с размером стороны 0.5 mm ($H_{\mathrm{IT}}$ = 18 GPa, $E_{\mathrm{IT}}$ = 105 GPa) при упругом восстановлении 84%. Углеродные включения обеспечивают хорошие триботехнические свойства КМ: коэффициент трения образцов КМ ($\mu$ = 0.09–0.13) существенно ниже, чем у латуни ($\mu$ = 0.3). Благодаря наличию в структуре непрерывных проводников в виде латунной сетки исследованные образцы КМ имеют достаточно высокую удельную электропроводность (36 MS/m), которая несколько ниже, чем у медного эталона (42 MS/m), но существенно выше, чем у КМ, полученного из смеси порошков металла и фуллерита (10 MS/m).

Ключевые слова: фуллерены, высокое давление, структура, твердость, трибологические свойства, удельная электропроводность.

Поступила в редакцию: 15.10.2024
Исправленный вариант: 15.10.2024
Принята в печать: 15.10.2024

DOI: 10.61011/JTF.2025.02.59727.289-24



Реферативные базы данных:


© МИАН, 2025