Аннотация:
При помощи времяпролетного масс-анализатора
изучен состав ионов, вызывающих многоэлектронные сцинтилляции в ЭОПах.
В приборах с многощелочным фотокатодом зарегистрировано значительное
количество ионов щелочных металлов (в основном цезия), образующихся при
полевой десорбции с поверхности анода. Другим источником ионов является
плазма, возникающая при разряде вдоль поверхности изолятора.