П. А. Юнин, А. А. Назаров, Е. А. Потанина, “Применение метода GIXRD для исследования нарушенных слоев в керамиках NaNd(WO$_4$)$_2$ и NaNd(MoO$_4$)$_2$, подвергнутых облучению высокоэнергетическими ионами”, ЖТФ, 2022, том 92, выпуск 8,страницы 1137

XXVI Международный симпозиум " Нанофизика и наноэлектроника" , Н. Новгород, 14-17 марта 2022 г.
Физическое материаловедение

Применение метода GIXRD для исследования нарушенных слоев в керамиках NaNd(WO$_4$)$_2$ и NaNd(MoO$_4$)$_2$, подвергнутых облучению высокоэнергетическими ионами

П. А. Юнин^a, А. А. Назаров^ab, Е. А. Потанина^b

^a Институт физики микроструктур РАН, 603087 Нижний Новгород, Россия
^b Нижегородский государственный университет им. Н. И. Лобачевского, 603022 Нижний Новгород, Россия

Аннотация: Методика рентгеновской дифрактометрии в геометрии скользящего падения (GIXRD) применена для диагностики нарушенных слоев в керамиках NaNd(WO$_4$)$_2$ и NaNd(MoO$_4$)$_2$, облученных высокоэнергетическими ионами. Показаны возможности и границы применимости методики для анализа подобных образцов. Даны оценки степени аморфизации в приповерхностных слоях керамик в зависимости от дозы облучения. Продемонстрирована большая стойкость керамики NaNd(MoO$_4$)$_2$ к внешнему радиационному воздействию по сравнению с NaNd(WO$_4$)$_2$.

Ключевые слова: рентгеновская дифрактометрия, метод параллельного пучка, геометрия скользящего падения, ионное облучение, керамики, радиационная стойкость, аморфизация, нарушенный слой.

Поступила в редакцию: 30.03.2022
Исправленный вариант: 30.03.2022
Принята в печать: 30.03.2022

DOI: 10.21883/JTF.2022.08.52774.69-22