Аннотация:
Путем анализа искажений упругих линий дифракционных спектров с привлечением высших центральных моментов распределения проведена оценка чувствительности разработанной методики к наличию примеси массивной компоненты в нанокомпозитных материалах. Рассмотрены случаи для основных типов инструментальных функций разрешения дифрактометров и функций, описывающих отклик от материалов, внедренных в поровое пространство наноматриц типа SBA-15, MCM-41, MCM-48 и т. п.
Ключевые слова:
пористые матрицы, дифракция, функция разрешения, нанокомпозитные материалы, форма линии упругих пиков, высшие центральные моменты распределения.
Поступила в редакцию: 10.03.2022 Исправленный вариант: 10.03.2022 Принята в печать: 17.05.2022
Полный текст:
PDF файл (358 kB)