Остаточные напряжения на интерфейсе между несущей лентой и слоем YSZ при изготовлении ВТСП проводов второго поколения

С помощью рентгеновской дифракции определены остаточные напряжения на поверхности несущей ленты из нержавеющей стали AISI 310S, используемой при изготовлении ВТСП проводов второго поколения в НИЦ “Курчатовский институт”, от поставки до нанесения основного буферного слоя YSZ между лентой и сверхпроводящим слоем, и остаточное напряжение в самом буферном слое YSZ. На поверхности ленты в состоянии поставки обнаружено вызванное прокаткой сжимающее напряжение $\sim$ -0.8 GPa. В процессе обработки оно меняется в пределах от -0.5 до -1.1 GPa. На каждом этапе найдено его распределение по глубине до 10 $\mu$m и определены вызванные обработкой остаточные напряжения. Остаточное напряжение в слое YSZ, нанесенном по технологии ABAD, является сжимающим и составляет -3.29 GPa. Слой имеет дефектную, по типу радиационного распухания, монокристаллическую структуру с периодом решетки в ненапряженном состоянии 5.1820 $\mathring{\mathrm{A}}$, на 0.9% больше, чем в обычном кристалле. Полученные результаты находятся в согласии с данными ранее проведенного нейтрон-дифракционного исследования остаточных напряжений внутри несущей ленты.