RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Журнал технической физики // Архив

ЖТФ, 2025, том 95, выпуск 5, страницы 1008–1017 (Mi jtf7577)

XII Международный симпозиум ''Оптика и биофотоника'' (Saratov Fall Meeting 2024), Саратов, 23-27 сентября 2024 г.
Акустика, акустоэлектроника

Мониторинг накопления повреждений методом акустической эмиссии в процессе механических и температурных деформаций монокристалла парателлурита

А. С. Мачихинab, А. Ю. Марченковa, Д. В. Черновc, Т. Д. Баландинac, М. О. Шариковаab, А. А. Быковab, Д. Д. Хохловab, Я. А. Элиовичd, Ю. В. Писаревскийd, А. А. Панькинаa

a Национальный исследовательский университет «Московский энергетический институт», 111250 Москва, Россия
b Научно-технологический центр уникального приборостроения РАН, 117342 Москва, Россия
c Институт машиноведения им. А. А. Благонравова РАН, 101990 Москва, Россия
d Курчатовский комплекс кристаллографии и фотоники НИЦ "Курчатовский институт", 119333 Москва, Россия

Аннотация: Рассмотрена задача выявления дефектов в монокристаллах парателлурита методом акустической эмиссии. Впервые исследования проведены на кристаллах, конфигурация которых и геометрия акустооптического взаимодействия в которых соответствует применяемой в широко распространенных устройствах – перестраиваемых спектральных фильтрах. Установлено, что высокочастотные акустические сигналы в рабочем диапазоне частот 27–60 MHz такого устройства не оказывают влияние на регистрацию сигналов акустической эмиссии. Предложены и экспериментально подтверждены комплексные критерии, позволяющие по параметрам сигналов акустической эмиссии выявлять моменты возникновения трещин в монокристаллах парателлурита под действием механических напряжений и градиентов температур. Предложенный подход позволяет в режиме реального времени определить фактическое состояние монокристалла парателлурита при воздействии как механических, так и температурных напряжений.

Ключевые слова: деформация, кристалл, парателлурит, акустическая эмиссия, статистическая обработка, амплитудно-частотная характеристика.

Поступила в редакцию: 15.10.2024
Исправленный вариант: 06.02.2025
Принята в печать: 06.02.2025

DOI: 10.61011/JTF.2025.05.60293.18-25



Реферативные базы данных:


© МИАН, 2025