RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Журнал технической физики // Архив

ЖТФ, 2015, том 85, выпуск 11, страницы 1–29 (Mi jtf7925)

Эта публикация цитируется в 14 статьях

Исследование атомной, кристаллической, доменной структуры материалов на основе анализа дифракционных и абсорбционных рентгеновских данных (Обзор)

М. Е. Бойко, М. Д. Шарков, А. М. Бойко, С. Г. Конников, А. В. Бобыль, Н. С. Будкина

Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, 194021 Санкт-Петербург, Россия

Аннотация: Описаны способы получения и анализа экспериментальных данных при использовании рентгеновских методов исследования материалов. Наибольшее внимание уделено методам EXAFS, рентгеновской дифрактометрии и малоуглового рассеяния рентгеновских лучей.

Поступила в редакцию: 31.03.2015


 Англоязычная версия: Technical Physics, 2015, 60:11, 1575–1600

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2025