Аннотация:
Изучено влияние бомбардировки ионами Ar$^+$ и Ba$^+$ на состав и электронную структуру поверхности пленок CdTe. Определены оптимальные режимы ионной имплантации и отжига для получения нанопленки типа Cd$_{0.5}$Ва$_{0.5}$Te. Установлено, что значение $E_g$ трехкомпонентной пленки при изменении ее толщины от 20 до 40 nm уменьшается от 1.9 до 1.7 eV.