Эта публикация цитируется в
10 статьях
Плазма
Воздействие плазменной струи на разные виды вольфрама
А. В. Анкудиновa,
А. В. Воронинa,
В. К. Гусевa,
Я. А. Герасименкоb,
Е. В. Деминаc,
М. Д. Прусаковаc,
Ю. В. Судьенковd a Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, 194021 Санкт-Петербург, Россия
b Санкт-Петербургский государственный политехнический университет, 195251 Санкт-Петербург, Россия
c Институт металлургии и материаловедения им. А. А. Байкова РАН, 119991 Москва, Россия
d Санкт-Петербургский государственный университет, 199164 Санкт-Петербург, Россия
Аннотация:
Представлены результаты исследований воздействия плазмы на различные виды вольфрама, создающей нестационарные тепловые нагрузки, аналогичные ЭЛМ-событиям в токамаке. Данные получены в экспериментах по облучению вольфрама струями плазменной пушки, которая генерировала струю водородной плазмы плотностью
$\sim$ 10
$^{22}$ m
$^{-3}$, скоростью 100–200 km/s в течение 10
$\mu$s. Облучение проводилось потоком плазмы с плотностью энергии 0.70 и 0.25 MJ/m
$^2$. Проведены исследования изменений структуры облученных образцов вольфрама – монокристаллического, горячекатаного и порошковых V
$\underbar{\ }$МP, ITER
$\underbar{\ }$D
$\underbar{\ }$2EDZJ4. В результате воздействия плазмы на поверхности монокристаллического, горячекатаного и порошкового вольфрама V
$\underbar{\ }$MP обнаружены регулярные трещины с периодом
$\sim$ 1 mm. Структура облученной поверхности вольфрама ITER
$\underbar{\ }$D
$\underbar{\ }$2EDZJ4 оказалась наиболее устойчивой к разрушению. Глубина расплавленного слоя составляла около 1 – 3
$\mu$m, а зона активного термического воздействия
$\sim$ 15–20
$\mu$m. Структура материала приобретала ярко выраженную регулярность с характерным размером частиц менее 1
$\mu$m. Рентгеновский анализ показал изменение параметров кристаллической решетки после облучения, связанное с процессами плавления и кристаллизации поверхностного слоя. Исследования вольфрама V
$\underbar{\ }$MP после циклического облучения плазмой с различной плотностью энергии показали, что наибольшие повреждения поверхности обнаружены при большой плотности энергии, тогда как при малой энергии и большом количестве облучений поверхность имела наименьшие по размерам дефекты.
Поступила в редакцию: 10.06.2013