Зависимость сечений процессов захвата электрона и захвата с ионизацией от параметра удара при столкновении протонов с многоэлектронными атомами

Измерены абсолютные величины дифференциальных сечений рассеяния атомов водорода, образовавшихся в процессах захвата электрона и захвата с ионизацией на примере столкновений протонов с энергией 4.5 и 11 keV с атомами аргона и ксенона. Диапазон исследованных углов рассеяния составлял 0–2$^\circ$. На основании экспериментальных величин дифференциальных сечений рассеяния рассчитаны вероятности процессов одноэлектронного захвата и захвата электрона с ионизацией как функции параметра удара. Зависимости угла рассеяния налетающих частиц от параметра удара (функции отклонения) при взаимодействии c атомами Аr и Хе были вычислены на основе классической механики с использованием потенциала Мольера–Юкавы для описания взаимодействия между атомными частицами. Проведен анализ зависимости вероятности процессов захвата электрона и захвата с дополнительной ионизацией от параметра удара и распределения электронной плотности различных оболочек в атоме-мишени от расстояния до ядра. Сделан вывод о том, что в процесс захвата с ионизацией вовлечены электроны лишь внешней электронной оболочки атома-мишени. Выполнен расчет сечения процесса захвата с ионизацией в диапазоне энергий протонов 5–20 keV.