Аннотация:
Проведен расчет вольт-амперных характеристик поверхностно облучаемых фотодиодов на основе InAsSb(P) в рамках простой модели, учитывающей радиальное изменение латерального сопротивления слоя полупроводника на облучаемой стороне. Показана применимость предложенной модели для прогнозирования особенностей распределения плотности фототока и их влияния на чувствительность фотодиодов.
Поступила в редакцию: 15.07.2013 Принята в печать: 21.04.2014