Исследование механизмов управления характеристиками дифракционной решетки, выполненной на поверхности электрооптического кристалла ниобата лития

Исследованы оптическое пропускание и диаграмма направленности управляемой дифракционной решетки на основе X-среза электрооптического кристалла ниобата лития. Показано снижение интенсивности 0-го и $\pm$1-х порядков дифракции до 40% от начального значения для напряжения до 792 V, приложенного к нанесенным на кристалл электродам. Установлено возникновение дифракционных порядков на углах $\pm\lambda/(2d)$ и $\pm3\lambda/(2d)$. Указанное изменение диаграммы направленности обусловлено возникновением в кристалле рассеивающей фазовой дифракционной решетки под действием элекрического поля электродов, исчезающей при отключении напряжения. Отмечена гистерезисная зависимость интенсивности 0-oго дифракционного порядка от напряжения, обусловленная возникновением иглообразных доменов с длиной до 100 $\mu$m и шириной до 10 $\mu$m, ориентированных перпендикулярно электродам. Показано, что в окрестности доменов существует электрическое поле, вызывающее поворот индикатрисы кристалла, деполяризацию и рассеяние проходящего излучения. Время жизни доменов в нормальных условиях составляет несколько недель при отключенном напряжении и незакороченных электродах.