RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Журнал технической физики // Архив

ЖТФ, 2014, том 84, выпуск 11, страницы 155–158 (Mi jtf8269)

Эта публикация цитируется в 3 статьях

Краткие сообщения

Исследование однородности толщин слоев кремния, выращенных в процессе молекулярно-лучевой эпитаксии из сублимационного источника

П. Б. Болдыревскийa, А. Г. Коровинa, С. А. Денисовb, С. П. Светловb, В. Г. Шенгуровb

a Нижегородский государственный университет им. Н. И. Лобачевского, 603950 Нижний Новгород, Россия
b Научно-исследовательский физико-технический институт Нижегородского государственного университета им. Н.И. Лобачевского, 603950 Нижний Новгород, Россия

Аннотация: Проведены экспериментальные исследования и теоретические расчеты распределения значений толщины эпитаксиального слоя по площади подложки для процесса осаждения из молекулярного пучка, формируемого в вакууме сублимационным источником. Полученные расчетные данные достаточно хорошо согласуются с экспериментом для молекулярно-лучевой эпитаксии кремния.

Поступила в редакцию: 20.03.2014


 Англоязычная версия: Technical Physics, 2014, 59:11, 1732–1735

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2025