RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Журнал технической физики // Архив

ЖТФ, 2025, том 95, выпуск 9, страницы 1756–1764 (Mi jtf8312)

XXIX Cимпозиум "Нанофизика и наноэлектроника", Нижний Новгород 10-14 марта 2025 г.
Физика низкоразмерных структур

Метод формирования кристаллических наноструктур из аморфных пленок диоксида ванадия

А. И. Комоновa, Н. Д. Манцуровa, Б. В. Волошинa, В. А. Селезневa, В. Н. Кичайb, Л. В. Яковкинаb, С. В. Мутилинa

a Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова СО РАН, 630090 Новосибирск, Россия
b Институт неорганической химии им. А. В. Николаева СО РАН, 630090 Новосибирск, Россия

Аннотация: Предложен метод прецизионного формирования кристаллических наноструктур диоксида ванадия из тонких сплошных амфорных пленок оксида ванадия, выращенных на подложках кремния. Высокая точность формируемых нанообъектов достигнута за счет использования технологий атомно-слоевого осаждения и окислительной сканирующей зондовой литографии. Кристаллизация сформированных аморфных наноструктур происходит в результате температурного отжига в вакууме, при этом размер формируемых нанокристаллов задается толщиной исходной аморфной пленки и геометрией аморфных наноструктур. Получены как одиночные поликристаллические наноструктуры, так и упорядоченные массивы наноструктур, состоящих из групп одиночных нанокристаллов. Латеральные размеры кристаллических наноструктур составили менее 100 nm. Размер одиночных нанокристаллов диоксида ванадия составил от 5 nm в высоту и от 50 nm в диаметре.

Ключевые слова: атомно-слоевое осаждение, окислительная сканирующая зондовая литография, послеростовой отжиг, наноструктуры и нанокристаллы диоксида ванадия.

Поступила в редакцию: 23.04.2025
Исправленный вариант: 23.04.2025
Принята в печать: 23.04.2025

DOI: 10.61011/JTF.2025.09.61236.73-25



© МИАН, 2025