RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Журнал технической физики // Архив

ЖТФ, 2025, том 95, выпуск 10, страницы 1954–1962 (Mi jtf8580)

XXIX Cимпозиум "Нанофизика и наноэлектроника", Нижний Новгород 10-14 марта 2025 г.
Физические приборы и методы эксперимента

Фокусирующая система Киркпатрика–Баеза для синхротронных применений

Д. Г. Реуновa, А. Д. Ахсахалянa, Е. И. Глушковa, И. П. Долбняb, И. Г. Забродинa, И. А. Каськовa, И. В. Малышевa, М. С. Михайленкоa, Е. В. Петраковa, А. Е. Пестовa, В. Н. Полковниковa, А. К. Чернышевa, Н. И. Чхалоa

a Институт физики микроструктур РАН, 603087 Афонино, Кстовский р-н, Нижегородская обл., Россия
b Diamond Light Source, United Kingdom, OX11 0DE, Oxfordshire, Didcot, Harwell Science and Innovation Campus

Аннотация: Описана фокусирующая система Киркпатрика–Баеза для синхротронного источника поколения 4+ на базе Сибирского кольцевого источника фотонов. Система предназначена для работы в диапазоне энергий фотонов 10–30 keV и должна обеспечить пятно фокусировки субмикронного размера. Сообщено о принципах построения и составе фокусирующей системы, а также методике измерения размера пятна фокусировки. Дана краткая характеристика ключевых проблем и методов, использованных при создании этой системы. Приведены результаты тестирования фокусирующих свойств системы, полученные с использованием лабораторного стенда и первого экспериментального комплекта эллиптических зеркал. Минимальный размер пятна фокусировки составил около 5.2 $\mu$m, что с учетом размера лабораторного источника и качества коллимирующей оптики стенда на синхротроне соответствует пятну фокусировки примерно в 2.6 $\mu$m. Обсуждены причины расхождения расчетных и экспериментальных данных.

Ключевые слова: синхротрон, кольцевой источник фотонов, фокусировка, система Киркпатрика–Баеза.

Поступила в редакцию: 29.05.2025
Исправленный вариант: 29.05.2025
Принята в печать: 29.05.2025

DOI: 10.61011/JTF.2025.10.61349.124-25n



© МИАН, 2025