RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Журнал технической физики // Архив

ЖТФ, 2013, том 83, выпуск 12, страницы 128–133 (Mi jtf8648)

Эта публикация цитируется в 37 статьях

Физическая электроника

Мемристорный эффект на пучках вертикально ориентированных углеродных нанотрубок при исследовании методом сканирующей туннельной микроскопии

О. А. Агеев, Ю. Ф. Блинов, О. И. Ильин, А. С. Коломийцев, Б. Г. Коноплев, М. В. Рубашкина, В. А. Смирнов, А. А. Федотов

Южный федеральный университет, г. Ростов-на-Дону

Аннотация: Представлены результаты экспериментальных исследований массива вертикально ориентированных углеродных нанотрубок (ВОУНТ) методом сканирующей туннельной микроскопии (СТМ). Показано, что при приложении внешнего электрического поля в системе СТМ-зонд/ВОУНТ индивидуальные вертикально ориентированные углеродные нанотрубки объединяются в пучки, диаметр которых зависит от радиуса острия СТМ-зонда. Выявлено наличие мемристорного эффекта на ВОУНТ. Для исследуемого массива ВОУНТ отношение сопротивлений в низкоомном и высокоомном состояниях при напряжении 180 mV составило 28. Полученные результаты могут быть использованы при разработке конструкций и технологических процессов изготовления приборов наноэлектроники на основе массивов ВОУНТ, в том числе элементов сверхбыстродействующих ячеек памяти для приборов вакуумной микроэлектроники.

Поступила в редакцию: 27.02.2013


 Англоязычная версия: Technical Physics, 2013, 58:12, 1831–1836

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2025