RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Журнал технической физики // Архив

ЖТФ, 2012, том 82, выпуск 12, страницы 63–66 (Mi jtf8994)

Эта публикация цитируется в 3 статьях

Твердотельная электроника

Модель фотолюминесценции ионно-синтезированных массивов нанокристаллов кремния в матрице диоксида кремния

С. Н. Нагорныхab, В. И. Павленковac, А. Н. Михайловa, А. И. Беловa, Л. В. Красильниковаad, Д. И. Крыжковd, Д. И. Тетельбаумa

a Научно-исследовательский физико-технический институт Нижегородского государственного университета им. Н.И. Лобачевского, 603950 Нижний Новгород, Россия
b Нижегородский государственный педагогический университет им. Козьмы Минина – Мининский университет, 603950 Нижний Новгород, Россия
c Арзамасский государственный педагогический институт им. А. П. Гайдара, 607220 Арзамас, Нижегородская область, Россия
d Институт физики микроструктур РАН, 603950 Нижний Новгород, Россия

Аннотация: Представлена четырехуровневая модель фотолюминесценции массивов нанокристаллов $\mathrm{Si}$ в $\mathrm{SiO}_2$, учитывающая термоактивированные переходы между синглетным и триплетным уровнями обменно-расщепленного энергетического состояния экситона в возбужденном нанокристалле кремния. Получено выражение для температурной зависимости интенсивности монохроматических составляющих фотолюминесценции. Путем сравнения с оригинальными экспериментальными данными для ионно-синтезированных нанокристаллов $\mathrm{Si}$ в матрице $\mathrm{SiO}_2$ найдена связь между величиной расщепления и энергией излучаемых фотонов. Модель объясняет конечную интенсивность фотолюминесценции при температурах, близких к 0 K, и немонотонность температурной зависимости интенсивности от температуры.

Поступила в редакцию: 31.01.2012


 Англоязычная версия: Technical Physics, 2012, 57:12, 1672–1675

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2025