RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Журнал технической физики // Архив

ЖТФ, 2011, том 81, выпуск 12, страницы 89–92 (Mi jtf9310)

Эта публикация цитируется в 2 статьях

Оптика, квантовая электроника

Анализ кристаллического расщепления мультиплетов иона Pr$^{3+}$ в YPO$_4$ c учетом влияния межконфигурационного взаимодействия

Л. А. Фомичева, Е. Б. Дунина, А. А. Корниенко

Витебский государственный технологический университет, 210035 Витебск, Беларусь

Аннотация: Выполнен анализ кристаллического расщепления мультиплетов иона Pr$^{3+}$ в YPO$_4$ c учетом влияния возбужденных конфигураций противоположной четности $4f^{(N-1)}5d$ и конфигурации с переносом заряда. Такой подход позволяет улучшить описание штарковской структуры мультиплетов на 39% по сравнению с приближением слабого конфигурационного взаимодействия, а также дает возможность на основе экспериментальных данных по штарковской структуре определить параметры ковалентности и параметры кристаллического поля нечетной симметрии. Параметры ковалентности, определенные таким способом, по порядку величины совпадают с соответствующими параметрами, вычисленными для других лигандов с помощью микроскопических моделей.

Поступила в редакцию: 09.03.2011


 Англоязычная версия: Technical Physics, 2011, 56:12, 1787–1790

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2025