Исследование размерной зависимости порога оптического пробоя щелочно-галоидных кристаллов в гауссовом пучке

Известно, что сверхпороговый нагрев лазерным излучением поглощающих неоднородностей, содержащихся в прозрачном диэлектрике, сопровождается образованием микроразрушений — пробоем. Анализ зависимости числа микроразрушений в пределах облучаемой области от плотности энергии в импульсе излучения, проведенный в предположении о наличии в материале поглощающих неоднородностей одного типа, позволяет найти величину порога пробоя, не зависящую от размера облучаемой области, и концентрацию неоднородностей. Полученные данные позволяют определить для любого значения размера облучаемой области величину порога, соответствующую появлению повреждений с вероятностью 0.5. Результаты проведенного анализа хорошо согласуются с экспериментальными данными, полученными при исследовании пробоя промышленных щелочно-галоидных кристаллов.