RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Журнал технической физики // Архив

ЖТФ, 2009, том 79, выпуск 11, страницы 153–159 (Mi jtf9995)

Эта публикация цитируется в 2 статьях

Краткие сообщения

Ионный источник с электронной ионизацией для портативного масс-спектрометра

В. Т. Коган, Д. С. Лебедев, Ю. В. Чичагов, И. В. Викторов, И. Т. Аманбаев, С. А. Власов

Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург

Аннотация: Рассмотрен источник ионов с электронной ионизацией, формирующий на своем выходе поток заряженных частиц с поперечным сечением $\sim$0.1 $\times$ 0.1 mm, разбросами по углам в пределах 2$^\circ$ $\times$ 2$^\circ$ и относительными разбросами по энергии $<$ 0.5% в диапазоне энергий 0.5–3 keV. Источник предназначен для систем, в которых фокусировка пучка ионов проводится по двум взаимно перпендикулярным направлениям. Предложенная конструкция позволяет проводить ионизацию пробы локально в объеме ($\sim$10 mm$^3$), где концентрация исследуемых частиц превышает среднее значение по объему вакуумной камеры масс-спектрометра на 2–3 порядка. Проведено численное моделирование ионно-оптических свойств источника, выбраны оптимальные параметры. Приведены примеры применения источника при масс-спектрометрическом определении солей металлов в водных пробах, а также газов и летучих соединений из проб, находящихся в различных фазовых состояниях.

Поступила в редакцию: 08.12.2008
Принята в печать: 26.02.2009


 Англоязычная версия: Technical Physics, 2009, 54:11, 1714–1720

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2026