Аннотация:
Ионные пучки применяются для диагностики и модификации поверхности твердых тел. Моделирование зарядового обмена ионов с поверхностью необходимо не только для понимания его фундаментальных закономерностей, но и для количественной диагностики, т.к. в большинстве экспериментальных установок регистрируются именно заряженные частицы (ионы). В силу существенной численной сложности прямого моделирования зарядового обмена, до недавнего времени применялись только приближенные одно- и двумерные методики. В последние годы авторами был создан программный код, реализующий прямое трехмерное моделирование зарядового обмена на графических вычислителях. В данной статье представлены некоторые примеры расчетов и изучен вопрос корректного задания начальных условий.