Аннотация:
Представлены результаты исследования модификации тонкой пленки халькогенидного стекла состава As$_{50}$S$_{50}$ фемтосекундным лазерным излучением на длине волны 800 nm. Анализ характера модификации проводился методами интерферометрии, атомной силовой микроскопии и рамановской спектроскопии. Установлена связь изменения величины показателя преломления при модификации образца со структурными изменениями сетки стекла.