Аннотация:
Предложен новый метод изучения фотоэлектрических свойств слоистых тонкопленочных структур, основанный на широкополосной Фурье-спектроскопии, где модуляция оптической задержки осуществляется по гармоническому закону. В отличие от традиционных подходов изучения фотоэлектрических свойств c применением дисперсионных спектральных приборов предлагаемый метод позволяет не только одновременно охватывать ультрафиолетовую, видимую и инфракрасную области спектра, обеспечивая при этом широкий динамический диапазон и спектральное разрешение, но и легко варьировать низкочастотную модуляцию светового воздействия. Возможности метода продемонстрированы на примере исследования поликристаллической органической гетероструктуры; измерены ее спектральная чувствительность, быстродействие и удельная обнаружительная способность. Предложены модель и эквивалентная электрическая схема для объяснения результатов измерений.