КР-микроспектроскопия напряжений, возникающих при фемтосекундном лазерном микропробое алмаза

Изучены индуцированные напряжения, вызванные лазерным оптическим пробоем в объеме природного алмаза, полированного по плоскости (331), фемтосекундными (300 fs) лазерными импульсами с различной энергией. С помощью скрещенных поляризационных фильтров визуализированы зоны сжатия и растяжения в областях воздействия. Получены профили напряжений методом спектроскопии комбинационного рассеяния, а также зависимости напряжений от энергии лазерного импульса в ключевых точках профилей. Результаты профилирования показали, что рост напряжений растяжения происходит быстрее, чем сжатия с увеличением энергии накачки.