RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Оптика и спектроскопия // Архив

Оптика и спектроскопия, 2023, том 131, выпуск 8, страницы 1112–1117 (Mi os1423)

Оптика низкоразмерных структур, мезоструктур и метаматериалов

Влияние пассивации поверхности цилиндрических мезаструктур на основе GaAs на их оптические свойства

И. А. Мельниченкоab, Н. В. Крыжановскаяa, К. А. Ивановa, А. М. Надточийac, И. С. Маховa, М. Г. Козодаевd, Р. Р. Хакимовd, А. М. Маркеевd, А. А. Воробьевb, А. М. Можаровb, Ю. А. Гусеваc, А. И. Лихачевc, Е. С. Колодезныйe, А. Е. Жуковa

a Национальный исследовательский университет «Высшая школа экономики» (Санкт-Петербургский филиал), 190008 Санкт-Петербург, Россия
b Санкт-Петербургский национальный исследовательский академический университет имени Ж. И. Алфёрова Российской академии наук, 194021 Санкт-Петербург, Россия
c Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, 194021 Санкт-Петербург, Россия
d Московский физико-технический институт (национальный исследовательский университет), Московская облаcть, г. Долгопрудный
e Университет ИТМО, 197101 Санкт-Петербург, Россия

Аннотация: Исследованы оптические свойства цилиндрических мезаструктур на основе GaAs до и после пассивации, выполненной с применением обработки структур в водородной плазме с последующим атомно-слоевым осаждением слоя Al$_2$O$_3$. В качестве светоизлучающей области мезаструктур использованы квантовая яма In$_{0.2}$Ga$_{0.8}$As/GaAs и сверхрешетка GaAs/AlAs. Диаметр мез изменялся от 3 до 20 $\mu$m. В результате пассивации получено 8-кратное увеличение интенсивности фотолюминесценции мез диаметром 9 $\mu$m при комнатной температуре, а исследования фотолюминесценции таких мезаструктур с разрешением по времени продемонстрировали увеличение времени жизни носителей заряда с 0.13 до 0.9 ns.

Ключевые слова: InGaAs, квантовая яма, поверхностная пассивация, атомно-слоевое осаждение.

Поступила в редакцию: 17.05.2023
Исправленный вариант: 17.05.2023
Принята в печать: 02.06.2023

DOI: 10.61011/OS.2023.08.56303.4894-23



Реферативные базы данных:


© МИАН, 2025