RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Оптика и спектроскопия // Архив

Оптика и спектроскопия, 2024, том 132, выпуск 11, страницы 1127–1130 (Mi os1487)

Международная конференция ФизикА.СПб, 21-25 октября 2024 г., Санкт-Петербург
Спектроскопия конденсированного состояния

Влияние степени атомного упорядочения на сегнетоэлектрические свойства твердых растворов GaInP$_2$

А. С. Власовa, В. Аксеновa, А. В. Анкудиновa, Н. А. Бертa, Н. А. Калюжныйa, Д. В. Лебедевa, Р. А. Салийa, Е. В. Пироговb, А. М. Минтаировa

a Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, Санкт-Петербург, Россия
b Санкт-Петербургский национальный исследовательский академический университет имени Ж. И. Алфёрова Российской академии наук, Санкт-Петербург, Россия

Аннотация: Исследованы слои GaInP$_2$, выращенные методом эпитаксии из металл-органических соединений на подложках GaAs (100) при температуре 720$^\circ$С, соотношении потоков V/III групп 15–150 и разориентации подложки 0 и 6$^\circ$. Измерены структурные (рентгеновская дифракция, просвечивающая электронная микроскопия и рамановская спектроскопия) и оптические (фотолюминесценция) свойства вместе с измерениями поверхностного потенциала (кельвин-зондовая микроскопия) слоев толщиной 500 nm. Показано наличие атомного упорядочения со структурой CuPt$_\mathrm{B}$, соответствующей монослойной сверхрешетке GaP$_1$/InP$_1$ вдоль направления [111]$_\mathrm{B}$, и вариации степени упорядочения $\eta$ = 0.05–0.56 в зависимости от условий роста. Измерения поверхностного потенциала выявили уменьшение встроенного электрического поля, подавление релаксации кристаллической решетки, обусловленной разной симметрией подложки и слоя (мартенситного перехода), и фиксацией (пинингом) уровня Ферми с уменьшением $\eta$, что демонстрирует возможности контроля сегнетоэлектрических свойств атомно-упорядоченных слоев GaInP$_2$.

Ключевые слова: GaInP$_2$, кельвин-зондовая микроскопия, атомное упорядочение, пьезоэлектрические эффекты.

Поступила в редакцию: 03.05.2024
Исправленный вариант: 28.06.2024
Принята в печать: 30.10.2024

DOI: 10.61011/OS.2024.11.59496.6501-24



Реферативные базы данных:


© МИАН, 2025