Анализ оптических характеристик дендритных наноструктур Ag на $c$-Si методом спектральной эллипсометрии

Методом химического осаждения из раствора AgNO$_3$ + HF получены дендритные наноструктуры серебра разной морфологии и средней высоты от 210 до 1030 nm на поверхностях кремниевых подложек. Модели Бруггемана, Таука–Лоренца, Гаусса и Друде использовались для анализа оптических свойств, толщины слоя и фактора заполнения при интерпретации экспериментальных эллипсометрических данных. В результате была получена хорошая сходимость экспериментальных и расчетных спектров действительной $\langle\varepsilon_1\rangle$ и мнимой $\langle\varepsilon_2\rangle$ частей комплексной псевдодиэлектрической проницаемости $\langle\varepsilon\rangle$.