Аннотация:
Синтетические алмазы являются предметом исследования во многих областях. Распознавание свойств материалов с размерами, близкими к нанометровому масштабу, имеет большое значение для фундаментальной науки и множества различных приложений. В данной работе микроалмазы, синтезированные при высоком давлении и высокой температуре (методом HPHT), и наноалмазы, полученные детонационным путём, оценивались с помощью методик XRD, SEM, TEM и спектроскопии комбинационного рассеяния света. Были также выполнены измерения люминесценции в видимой и ультрафиолетовой (УФ) областях спектра и сопоставлены друг с другом для оценки влияния поверхностных дефектов и размера зерен на оптические свойства алмазов.
Ключевые слова:
алмазы, спектроскопия, дефекты.
Поступила в редакцию: 15.07.2021 Исправленный вариант: 24.09.2021 Принята в печать: 27.09.2021