Выбор спектральных переменных в многопараметрической калибровке концентраций C, Mn, Si, Cr, Ni и Cu в низколегированных сталях методами лазерно-искровой эмиссионной спектроскопии

По эмиссионным спектрам низкого разрешения (190–440 nm, разрешение 0.4 nm, шаг по спектру 0.1 nm) разработаны многопараметрические модели калибровки концентраций C, Mn, Si, Cr, Ni и Cu методом частичных наименьших квадратов в выборках, содержащих от 31 до 39 эталонов низколегированных сталей. Рассмотрены три метода выбора спектральных переменных: метод ранжирования спектральных переменных по их коэффициенту корреляции с величиной искомого параметра, алгоритм последовательного проецирования и оригинальная модификация метода поиска комбинации движущихся окон. Модель частичных наименьших квадратов с выбором спектральных переменных методом поиска комбинации движущихся окон для C является количественной: среднеквадратичное отклонение 0.004%, остаточное отклонение в проверочной выборке 23.4 в диапазоне концентраций от 0.13 до 0.43%. Количественными являются также калибровки концентраций Mn (0.04% и 5.2 в диапазоне 0.47–1.15%), Si (0.003% и 20.7 в диапазоне 0.15–0.33%), Cr (0.04% и 3.1 в диапазоне 0.09–0.43%) и Ni (0.01% и 4.8 в диапазоне 0.05–0.25%). Для Cu в диапазоне концентраций 0.06–0.26% калибровка является качественной (0.04% и 1.4).