Аннотация:
Методом спектральной эллипсометрии исследованы оптические свойства легированных бором кремниевых пластин КДБ-12 с одной матированной поверхностью, подвергнутых быстрому термическому отжигу. В алгоритме расчетов диэлектрической проницаемости полупроводниковой подложки исключено влияние известного поверхностного оксидного слоя. Рассчитаны ширина запрещенных зон и энергия Урбаха. Спектры действительной и мнимой частей диэлектрической проницаемости сдвинуты относительно соответствующих спектров c-Si в коротковолновую область. Полоса мнимой части диэлектрической проницаемости в области второй точки сингулярности состоит из нескольких полос.
Ключевые слова:
спектры диэлектрической проницаемости, показатели преломления и поглощения, ширина запрещенной зоны, энергия Урбаха, легированный бором кремний.
Поступила в редакцию: 04.09.2024 Исправленный вариант: 07.05.2025 Принята в печать: 05.06.2025