RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Оптика и спектроскопия // Архив

Оптика и спектроскопия, 2020, том 128, выпуск 9, страницы 1327–1336 (Mi os312)

Эта публикация цитируется в 1 статье

Оптика низкоразмерных структур, мезоструктур и метаматериалов

Приближенные граничные условия для задачи нахождения оптических коэффициентов ультратонких металлических пленок в СВЧ и ТГЦ диапазонах

П. С. Глазуновab, В. А. Вдовинa, В. Г. Андреевab

a Институт радиотехники и электроники им. В. А. Котельникова РАН, г. Москва
b Московский государственный университет имени М. В. Ломоносова

Аннотация: Получены приближенные граничные условия для задачи расчета оптических коэффициентов системы, состоящей из диэлектрической подложки и напыленной на нее неоднородной ультратонкой металлической пленки с произвольной зависимостью проводимости по толщине. Вывод граничных условий основан на методе последовательных приближений Пикара. Приведены аналитические выражения для оценки погрешности вычисления оптических коэффициентов, полученных при помощи предлагаемых приближенных граничных условий. Показано, что погрешность растет с частотой и увеличением толщины пленки. Максимальная погрешность для пленок толщиной 10 nm не превышает 10.7% на частоте 1 THz. В качестве примера рассчитаны комплексные оптические коэффициенты системы типа эталона Фабри–Перо и металлической пленки без подложки с модельной зависимостью проводимости по толщине. Показано совпадение результатов расчетов, выполненных путем численного моделирования и с использованием приближенных граничных условий. Продемонстрирована возможность непосредственного вычисления средней удельной проводимости пленки по экспериментально измеренным коэффициентам отражения и пропускания.

Ключевые слова: ультратонкие металлические пленки, приближенные граничные условия, СВЧ и ТГц диапазон, оптические коэффициенты, электропроводность.

Поступила в редакцию: 07.04.2020
Исправленный вариант: 13.05.2020
Принята в печать: 20.05.2020

DOI: 10.21883/OS.2020.09.49874.134-20


 Англоязычная версия: Optics and Spectroscopy, 2020, 128:9, 1439–1448

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024