RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Оптика и спектроскопия // Архив

Оптика и спектроскопия, 2020, том 128, выпуск 1, страницы 144–150 (Mi os509)

Оптика поверхностей и границ раздела

Наносекундное воздействие интенсивного лазерного излучения на тонкие плёнки TiAlN

Г. Д. Ивлевa, В. А. Зайковa, И. М. Климовичa, Ф. Ф. Комаровb, О. Р. Людчикa

a Белорусский государственный университет, г. Минск
b Институт прикладных физических проблем им. А. Н. Севченко Белорусского государственного университета, г. Минск

Аннотация: Измерены спектральные зависимости ($\lambda$ = 0.35–1.0 $\mu$m) коэффициентов пропускания и отражательной способности $R$ тонких плёнок бинарного нитрида TiAlN, осаждённых методом магнетронного распыления мишени на стеклянные подложки и на пластины Si. Плёнки TiAlN/Si толщиной 0.5 $\mu$m подвергались воздействию одиночных наносекундных (70 ns) импульсов излучения рубинового лазера с целью исследования влияния лазерно-индуцированных в TiAlN теплофизических процессов на динамику $R(t)$ на длинах волн зондирующего излучения $\lambda_{1}$ = 0.53 и $\lambda_{2}$ = 1.06 $\mu$m и на состояние зон лазерного облучения, которое изучалось методами оптической и растровой электронной микроскопии. Наблюдаемое в эксперименте, связанное с импульсным нагревом плёнки, динамическое изменение $R$ – возрастание на $\lambda_{1}$ и уменьшение на $\lambda_{2}$, усиливается по мере повышения плотности энергии облучения $W$ с приближением к порогу лазерной абляции нитрида $\sim$1 J/cm$^{2}$. Лазерно-индуцированные теплофизические процессы, происходящие при $W$ = 0.6–0.9 J/cm$^{2}$, приводят к специфической модификации слоя TiAlN с образованием сетки трещин из-за возникающих во время действия лазерного импульса термических напряжений. Повышение $W$ приводит к образованию более развитой сетчатой/ячеистой структуры плёнки, характеризующейся меньшим средним размером ячеек.

Ключевые слова: тонкие пленки, бинарный нитрид, лазерное облучение.

Поступила в редакцию: 20.08.2019
Исправленный вариант: 20.08.2019
Принята в печать: 09.09.2019

DOI: 10.21883/OS.2020.01.48852.253-19


 Англоязычная версия: Optics and Spectroscopy, 2020, 128:1, 141–147

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024