Аннотация:
Методами ИК-спектроскопии и атомно-силовой микроскопии определены изменения морфологии и молекулярной структуры поверхностных слоев полиимидно-фторопластовой пленки после обработки в плазме низкочастотного тлеющего разряда. Установлено, что при обработке полиимидного слоя имеет место преимущественно послойное травление и образующиеся слои характеризуются периодическим изменением полярной и дисперсионной составляющих поверхностной энергии. При обработке фторполимерного слоя пленки выявлена деструкция молекул, ориентированных преимущественно параллельно поверхности пленки, и образование в результате травления столбчатых структур.