Аннотация:
В результате измерения положения на оси $H$ и интенсивности
максимума спонтанного излучения легких дырок германия при фиксированной
частоте, определяемой пиком фоточувствительности
$n$-GaAs-фотоприемника, показано, что анизотропия подзоны
тяжелых дырок существенно влияет на их разогрев в сильных скрещенных $E$ и
$H$ полях. В полях до ${E=3}$ кВ/см при ${H=20}$ кЭ оценен размер
источника в подзоне легких дырок для различных кристаллографических
направлений E и H. Отмечено заметное влияние анизотропии подзоны
легких дырок на положение циклотронного максимума.