RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 1985, том 19, выпуск 4, страницы 735–737 (Mi phts1174)

Краткие сообщения

Исследование спектра глубоких уровней в эпитаксиальных структурах методом релаксационной спектроскопии фотоиндуцированных токов

В. П. Кузнецов, Э. М. Омельяновский, А. Я. Поляков, В. А. Фридман, Г. В. Шепекина




© МИАН, 2024