RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 1985, том 19, выпуск 8, страницы 1394–1398 (Mi phts1343)

Субмиллиметровая фотопроводимость эпитаксиального InP, легированного редкоземельными элементами

Л. В. Берман, А. Т. Гореленок, А. Г. Жуков, В. В. Мамутин


Аннотация: В диапазоне длин волн 50$-$400 мкм при 4.2 K исследовано влияние легирования редкоземельными элементами (РЗЭ) слоев InP, полученных жидкофазной эпитаксией на подложках из полуизолирующего InP : Fe, на вид спектра фотопроводимости, обусловленной фотовозбуждением остаточных мелких донорных примесей. По изменению ширины линии перехода $1s{-}2p$, расположенной при ${\lambda=220}$ мкм, установлено, что введение РЗЭ в расплав приводит к уменьшению концентрации мелкой примеси в слоях InP. Одновременно возникает сильная компенсация донорного уровня, которая влияет на характеристики материала по крайней мере при 4.2 K.



© МИАН, 2024