RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 1986, том 20, выпуск 4, страницы 625–628 (Mi phts149)

Легирование полупроводников с помощью фотоядерных реакций

В. В. Заблоцкий, Н. А. Иванов, В. Ф. Космач, Н. Н. Леонов, В. И. Остроумов

Ленинградский политехнический институт им. М. И. Калинина

Аннотация: Рассматриваются основные закономерности формирования примесного состава в различных полупроводниках при их облучении гамма-квантами с энергиями ${15\div30}$ МэВ. В качестве источника интенсивных потоков гамма-квантов высоких энергий предлагается использовать ускорители электронов на энергии ${\approx40}$ МэВ. Приводятся результаты расчетов эффективности образования примесных атомов под действием тормозного излучения в кремнии, германии и некоторых соединениях A$^{\text{III}}$B$^{\text{V}}$. Анализ расчетов показывает, что дырочная проводимость преобладает лишь в моноатомных полупроводниках. В соединениях A$^{\text{III}}$B$^{\text{V}}$ соотношение количества атомов примесей донорного и акцепторного типов таково, что ядерное легирование этих полупроводников с помощью фотоядерных реакций будет приводить к получению либо компенсированных материалов (GaSb и InAs), либо материалов $n$-типа проводимости (GaAs и InSb).

УДК: 621.315.592

Поступила в редакцию: 22.07.1985
Принята в печать: 07.10.1985



© МИАН, 2024