Температурная зависимость времени междолинной релаксации в электронном кремнии

Путем наблюдения частотной зависимости анизотропии электропроводности $n$-Si в слабо греющих электрических полях установлены значения времени междолинной релаксации $\tau_{i}$ в интервале температур ${66\div120}$ K. Измерения проведены с материалом, концентрация электронов в котором не превышает${2\cdot10^{13}\,\text{см}^{-3}}$. Экспериментально показано, что в материале такого качества частота междолинных переходов определяется взаимодействием свободных носителей заряда с колебаниями решетки, что позволяет полученные результаты о температурной зависимости $\tau_{i}$ использовать для оценки констант связи электронов с междолинными фононами $f$-типа.