Аннотация:
Проведен анализ работ, посвященных теоретическому, численному и экспериментальному исследованию электронных явлений
в полупроводниковых структурах при баллистическом и квазибаллистическом движении носителей заряда. Рассмотрены классические эффекты, связанные с соизмеримостью длины релаксации импульса носителей заряда и характерных
размеров структур. Диодные и транзисторные структуры в условиях баллистического и квазибаллистического транспорта могут обладать нетривиальными свойствами. Потенциальные возможности таких структур делают их перспективными
для устройств твердотельной электроники сверхвысоких частот и вычислительной техники.
УДК:
621.315.592
Поступила в редакцию: 05.12.1983 Принята в печать: 07.12.1983