RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 1984, том 18, выпуск 7, страницы 1153–1172 (Mi phts1827)

Мессбауэровские исследования примесных атомов в полупроводниках (обзор)

А. Р. Регель, П. П. Серегин

Физико-технический институт им. А. Ф. Иоффе АН СССР, г. Ленинград

Аннотация: Представлены данные о примесных центрах в кремнии, германии, соединениях A$^{\text{III}}$B$^{\text{V}}$, A$^{\text{II}}$B$^{\text{VI}}$, A$^{\text{III}}$B$^{\text{VI}}$, A$^{\text{IV}}$B$^{\text{VI}}$, халькогенидных стеклообразных полупроводниках, полученные с помощью мессбауэровской спектроскопии. Показано, что наряду с информацией о зарядовом состоянии примеси, ее положении в решетке образования ассоциатов с другими дефектами решетки мессбауэровская спектроскопия позволяет наблюдать и весьма тонкие эффекты, такие как изменение зарядового состояния примеси в зависимости от положения уровня Ферми и процессы быстрого электронного обмена между нейтральными и ионизованными примесными центрами. Отмечается необходимость сочетания эффекта Мессбауэра с традиционными методами физики полупроводников, что позволит избежать противоречивых выводов и дать полное описание наблюдавшихся явлений.

УДК: 621.315.592

Поступила в редакцию: 07.12.1983
Принята в печать: 14.12.1983



© МИАН, 2024