Аннотация:
Рассмотрены основные черты поведения изоэлектронных
(изовалентных) примесей (ИБП) в полупроводниках: образование
связанных состояний, в том числе находящихся в резонансе с непрерывным
спектром зонных электронов, и влияние на содержание фоновых точечных
дефектов в кристаллах.
Проанализированы ряд эмпирических моделей и основные теоретические
представления о поведении изовалентных примесей. Показано, что строгое
рассмотрение проблемы должно учитывать ионные потенциалы ИВП и замещающих
атомов, электронную поляризацию и локальные искажения кристаллической решетки
вблизи атома ИБП.
Намечены пути построения строгой теории и основные задачи экспериментального
изучения полупроводников с ИБП.