RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 1984, том 18, выпуск 10, страницы 1823–1826 (Mi phts1990)

Влияние неоднородного разогрева носителей заряда при оже-рекомбинации на фотопроводимость полупроводников

И. А. Лубашевский, В. Д. Пищалко, В. И. Рыжий, В. А. Федирко


Аннотация: Исследована фотопроводимость полупроводника при наличии разогрева электронно-дырочной плазмы вследствие оже-рекомбинации в условиях, когда плазма является пространственно неоднородной. Показано, что при наличии поверхностной рекомбинации спектральная зависимость фотопроводимости может иметь минимум в коротковолновой области за краем поглощения. Анализ экспериментальных данных на основе проведенного рассмотрения позволяет оценить характеристики материала.



© МИАН, 2024