RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 1986, том 20, выпуск 5, страницы 849–852 (Mi phts202)

Особенности комплексообразования в $p$-CdTe при значительных концентрациях собственных дефектов

М. И. Илащук, В. В. Матлак, О. А. Парфенюк, А. В. Савицкий

Черновицкий государственный университет

Аннотация: Исследованы электрофизические свойства нелегированных кристаллов $p$-CdTe, закаленных от высоких температур. Установлено, что полученный материал содержит значительное количество (${\simeq10^{18}\,\text{см}^{-3}}$) собственных дефектов ($V'_{\text{Cd}}$, Cd$^{\bullet}_{i}$), образующих ассоциаты с низкой энергией взаимодействия, основная часть которых (${\sim60}$%) диссоциирует при ${T=350\div385}$ K.

УДК: 621.315.592

Поступила в редакцию: 22.04.1985
Принята в печать: 27.11.1985



© МИАН, 2024