Аннотация:
На основе результатов исследования оптических
характеристик пленок Im$_{2}$O$_{3}$ : Sn и
вольтфарадных характеристик структур установлено взаимное расположение
энергетических зон контактирующих полупроводников в гетеропереходе
In$_{2}$O$_{3}$ : Sn${-}n$-Si. Показано, что широкая запрещенная
зона окисного полупроводника не является препятствием для туннелирования
дырок из кремния в In$_{2}$O$_{3}$ через тонкий диэлектрический
слой, расположенный на границе гетероперехода.